深圳市禾苗分析儀器有限公司，是一家集國產(chǎn)鍍層測厚儀、合金分析儀x2034d9n為一體的綜合型現(xiàn)代化企業(yè)，為廣大客戶奉獻專業(yè)、高品質(zhì)的膜厚儀專營機構。

   禾苗分析膜厚儀的優(yōu)勢在于能夠全面深入地根據(jù)客戶的實際需求和現(xiàn)實問題，及時準確地提供專業(yè)的解決方案。同時，公司始終密切關注商務服務、軟件開發(fā)行業(yè)發(fā)展的最新動態(tài)，并與行業(yè)內(nèi)知名企業(yè)建立了良好、長期穩(wěn)定的合作關系，為客戶提供最專業(yè)、先進的X熒光光譜儀。 延伸內(nèi)容 詳情介紹：膜厚測試儀校準方法 膜厚測試儀校準方法 1儀器校零 1．1將測量探頭壓在鐵基上（或不帶涂層的測量體上），滄州歐譜再輕按一下校零鍵ZERO進行校零。在按ZERO鍵時，測量探頭在鐵基上不要晃動。同時要注意，只有在按完ZERO鍵后，才能提起探頭，否則，校零不正確。 1．2將測量探頭提起（或不帶涂層的測量體上），觀察鐵基上的測量值，若測量值在0附近，說明校零成功，否則，應得新校零。 2儀器校滿度 2．1根據(jù)要測量的涂層厚度，選擇 適當?shù)臉藴誓てM行滿度校準。 2．2先將標準膜片放在鐵基上（或不帶涂層的測量體上）。 C2．3再將測量探頭壓在標準膜片上，測量值就顯示在顯示器上，若測量值與標準膜片不同，測量值可通過加1鍵或減1鍵來修正。修正時，測量探頭一定提起，否則，按加1鍵或減1鍵無效。 2．4為保證校滿度的準確性，可通過多次測同一標準膜片來驗證。

   禾苗分析堅持與時俱進，倡導以服務為本，以誠信為本，以人為本的經(jīng)營理念。公司秉承顧客至上，銳意進取的經(jīng)營理念，堅持客戶第一的原則為廣大客戶提供優(yōu)質(zhì)的X熒光光譜儀、鍍層檢測儀、鹵素檢測儀服務。歡迎來電垂詢：0755-96219363，或訪問公司官網(wǎng)：heleex