深圳市禾苗分析儀器有限公司是一家以最權(quán)威的鹵素檢測儀、國產(chǎn)鍍層測厚儀和鍍層測厚儀器為主要業(yè)務(wù)的公司。我們致力于提供有優(yōu)質(zhì)的X熒光光譜儀服務(wù)。深圳市禾苗分析儀器有限公司成立于2012-06-05，作為一家社會責(zé)任感強的公司，禾苗分析將依托強大的實力，在膜厚儀x2034d9n領(lǐng)域內(nèi)樹立最具口碑的品牌形象。

   目前，深圳市禾苗分析儀器有限公司主營業(yè)務(wù)類型主要包括：xrf報告應(yīng)包含哪些內(nèi)容、rohs測試儀輻射有多大、服務(wù)佳的XRF以及業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的ROHS測試儀。禾苗分析依托在xrf測試樣品要求領(lǐng)域多年來積淀的實踐經(jīng)驗，通過先進技術(shù)，為客戶提供完善的RoHS檢測產(chǎn)品及服務(wù)。 延伸拓展 產(chǎn)品詳情：膜厚測試儀校準(zhǔn)方法 膜厚測試儀校準(zhǔn)方法 1儀器校零 1．1將測量探頭壓在鐵基上（或不帶涂層的測量體上），滄州歐譜再輕按一下校零鍵ZERO進行校零。在按ZERO鍵時，測量探頭在鐵基上不要晃動。同時要注意，只有在按完ZERO鍵后，才能提起探頭，否則，校零不正確。 1．2將測量探頭提起（或不帶涂層的測量體上），觀察鐵基上的測量值，若測量值在0附近，說明校零成功，否則，應(yīng)得新校零。 2儀器校滿度 2．1根據(jù)要測量的涂層厚度，選擇 適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)膜片，進行滿度校準(zhǔn)。 2．2先將標(biāo)準(zhǔn)膜片放在鐵基上（或不帶涂層的測量體上）。 C2．3再將測量探頭壓在標(biāo)準(zhǔn)膜片上，測量值就顯示在顯示器上，若測量值與標(biāo)準(zhǔn)膜片不同，測量值可通過加1鍵或減1鍵來修正。修正時，測量探頭一定提起，否則，按加1鍵或減1鍵無效。 2．4為保證校滿度的準(zhǔn)確性，可通過多次測同一標(biāo)準(zhǔn)膜片來驗證。

   “誠信務(wù)實、開放創(chuàng)新”是深圳市禾苗分析儀器有限公司團隊服務(wù)的宗旨，禾苗分析的團隊將繼續(xù)秉承“精誠合作、服務(wù)第一”的永恒理念，總結(jié)經(jīng)驗，快速發(fā)展與更多的業(yè)內(nèi)人士共同打造更具價值的RoHS檢測服務(wù)平臺；并為廣大客戶提供高效、全方位的儀器儀表產(chǎn)品及服務(wù)。了解更多公司服務(wù)詳情，請來電咨詢：0755-96219363，或登錄公司官網(wǎng)：heleex。