深圳市禾苗分析儀器有限公司是集設計開發,生產銷售一體的現代化,專業化,規模化的企業。企業擁有一支高技術及凝聚力強的設計團隊,生產,隊伍,并聘請了經濟學教授作為企業高級顧問,為打造世界品牌—禾苗分析HELEEXX熒光光譜儀提供了保障。旗下鍍層測厚儀器x2034d9n、鍍層分析儀等產品深受客戶喜愛。
   深圳市禾苗分析儀器有限公司堅持走社會效益、經濟效益與環境效益并重的企業發展之路,立足于商務服務行業,努力追求技術創新,不斷拓展服務領域,積極營造溫馨的文化氛圍,為您提供高性價比的RoHS檢測產品,并樹立禾苗分析禾苗HELEEX品牌形象。
延伸拓展
產品詳情:膜厚測試儀校準方法膜厚測試儀校準方法1儀器校零1.1將測量探頭壓在鐵基上(或不帶涂層的測量體上),滄州歐譜再輕按一下校零鍵ZERO進行校零。在按ZERO鍵時,測量探頭在鐵基上不要晃動。同時要注意,只有在按完ZERO鍵后,才能提起探頭,否則,校零不正確。1.2將測量探頭提起(或不帶涂層的測量體上),觀察鐵基上的測量值,若測量值在0附近,說明校零成功,否則,應得新校零。2儀器校滿度2.1根據要測量的涂層厚度,選擇適當的標準膜片,進行滿度校準。2.2先將標準膜片放在鐵基上(或不帶涂層的測量體上)。C2.3再將測量探頭壓在標準膜片上,測量值就顯示在顯示器上,若測量值與標準膜片不同,測量值可通過加1鍵或減1鍵來修正。修正時,測量探頭一定提起,否則,按加1鍵或減1鍵無效。2.4為保證校滿度的準確性,可通過多次測同一標準膜片來驗證。
   深圳市禾苗分析儀器有限公司的誠信、實力和產品質量獲得業界的認可。歡迎各界朋友蒞臨參觀、指導和業務洽談。更多詳細信息請訪問: