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[供應]超高分辨率納米焦點DR檢測系統

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超高分辨率納米焦點DR檢測系統詳細信息

超高分辨率納米焦點DR檢測系統

關鍵特征：

190kV/225kV/240kV穿透型高分辨率納米焦點射線 JIMA卡空間分辨率測試可達0.5微米支持多種平板探測器，探元大小可選50微米/100微米/139微米/200微米

主要技術規格：

微米焦點射線管

類型

穿透型納米焦點射線管

最大管電壓

190kV/225kV/240kV

冷卻

封閉式自循環冷卻

焦點大小

0.5微米(采用JIMA卡測試)

探測器

類型

非晶硅平板探測器

像素大小

100um /127um /139um/200um

像素數量

平板探測器：>2048′2048

機械系統

類型

高精度機械系統

最大有效檢測范圍

可定制化

最大承重

可定制化

旋轉

nx3600

軟件

類型

二維射線檢測

軟件功能

系統控制、二維射線檢測、平板探測器校正、圖像處理、灰度分析、圖像濾波、測量功能、支持定制化軟件功能

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