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描述 與內置線偏振器相比，Agilent 8169A提供極化合成。對四分之一波片和半波片逐一進行調整，以決定性方式創建極化所有可能的狀態。偏振器生成消光比高的極化線性狀態。8169A內部預定算法使傳輸路徑從波英卡里球上的某種極化狀態沿著正交大圓到達另一種待指定狀態。
應用：
極化合成 在整個波英卡里球上全面自動完成極化調整（決定性方式） 單波段偏振相關損耗測量 w/ 安捷倫 8163A/64A/66A 或 8509C （偏振相關損耗 < 1.0 dB 時，典型測量時間為 2-10 秒） 掃描波段偏振相關損耗測量（w/ 安捷倫 8153A 和 8168XX） 從屬極化的 EDFA 增益測量 EDFA 表征極化零位 光耦合系數（功率變化量/ SOP）的極化靈敏度測量 測試設備主要極化狀態相關極化射束校正（w/ Agilent 8153A） 對極化模式色散測量的光發布條件極化調整 采用快速偏振掃描來模擬消偏振信號 [1]




描述 與內置線偏振器相比，Agilent 8169A提供極化合成。對四分之一波片和半波片逐一進行調整，以決定性方式創建極化所有可能的狀態。偏振器生成消光比高的極化線性狀態。8169A內部預定算法使傳輸路徑從波英卡里球上的某種極化狀態沿著正交大圓到達另一種待指定狀態。
應用：
極化合成 在整個波英卡里球上全面自動完成極化調整（決定性方式） 單波段偏振相關損耗測量 w/ 安捷倫 8163A/64A/66A 或 8509C （偏振相關損耗 < 1.0 dB 時，典型測量時間為 2-10 秒） 掃描波段偏振相關損耗測量（w/ 安捷倫 8153A 和 8168XX） 從屬極化的 EDFA 增益測量 EDFA 表征極化零位 光耦合系數（功率變化量/ SOP）的極化靈敏度測量 測試設備主要極化狀態相關極化射束校正（w/ Agilent 8153A） 對極化模式色散測量的光發布條件極化調整 采用快速偏振掃描來模擬消偏振信號 [1]




備注：


本公司專業及大量經營各類二手進口儀器（銷售、租賃業務），成色新，價格低


技術先進、質量可靠、性能穩定的優良產品。