菲希爾X射線膜厚測(cè)試儀測(cè)量技術(shù)領(lǐng)先同行15年，在同測(cè)量領(lǐng)域獨(dú)領(lǐng)風(fēng)蚤，成為占有率最廣的品牌，精準(zhǔn)的數(shù)據(jù)，高端先進(jìn)的技術(shù)，嚴(yán)格的品質(zhì)要求，可靠、可信、快速的服務(wù)，及一些專業(yè)意見與技術(shù)扶持，值得您的信賴。

X射線膜厚測(cè)試儀主要特點(diǎn)有：
★搭載樣品尺寸的兼容性，能夠通過一臺(tái)儀器測(cè)量，從電子部件、電路板到機(jī)械部件等高度較高的樣品 
★具有焦點(diǎn)距離切換功能，適用于有凹凸的機(jī)械部件與電路板的底部進(jìn)行測(cè)量 
★彩色CCD攝像頭，通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍
★操作簡(jiǎn)單，無需破壞樣品，就可以進(jìn)行非破壞式的測(cè)量

X射線膜厚測(cè)試儀的綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層. 鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡(jiǎn)單的核對(duì)方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液. 定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.

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