納米激光粒度分析儀從光源發出的兩束頻率相同、相位一致的激光束,在測試區域相交,在兩個檢測器上得到兩份相似的光強信號的漲落變化,兩份光強信號漲落變化相同的部分為顆粒的實際光強信號,而不相同的部分則是干擾信號,被濾除。光電倍增管將相同的真實的顆粒信號送給相關器處理,相關器將處理結果輸送給計算機,得出最后的測試報告。
    納米激光粒度分析儀的特點:
    雙光束,雙檢測器同時作用,只選擇顆粒真正產生的單散射信號部分,去除干擾信號,降低對環境的要求;納米激光粒度分析儀可直接測量熒光物質,帶顏色的物質;測試結果與樣品的濃度、樣品池的位置無關,降低測試過程中的人為操作誤差,納米激光粒度分析儀通過雙光源過濾掉噪音信號,降低對環境的要求;測試時間為2-5分鐘,測試過程中實時動態顯示光強波動和粒度大小;納米激光粒度分析儀通過計算機軟件自動調節樣品池的位置,得到最精確的測量結果;根據被測顆粒的大小,可通過計算機自動調節激光源的輸出功率。
    納米激光粒度分析儀優化的光路結構
    1.光路采用透鏡后傅立葉變換結構,最大接收角不受傅立葉鏡頭口徑限制。
    2.光源采用He-Ne氣體激光發射器,相比于其他的激光發射器具有單色性好、相干性高、發散角小、穩定性強等優點,同時采用一體化激光發射器專利設計(專利號:00228952.0),有效降低了激光管熱變形、外界機械振動對儀器穩定性的影響。
    3.對于激光發射器,除進行輸出功率值的傳統檢測外,還增加輸出功率穩定性試驗,以保證儀器的測試性能。
    4.納米激光粒度分析儀采取濾波平滑處理技術,降低激光管功率波動對測量的影響。
    5.增加后向探測器,擴展測量下限到0.1微米。
    6.納米激光粒度分析儀探測器陣列采用獨有的大角散射光的球面接受技術(專利號:95223756.3),主探測器采用對稱大角扇形設計,接收面積大,分布更加合理科學,受光更充分,側向探測器為多片組合依據球面呈弧形分布,排列在透鏡焦面上,保證了大角散射光的精確聚焦,保證了樣品散射光能的準確獲取。
    納米激光粒度分析儀先進的數據采集及處理技術
    1.納米激光粒度分析儀采用8通道同時采樣16位ADC(模擬/數字轉換器),幀數據采樣率高達1kHz。
    2.采用64通道同時采樣技術和超低泄露電流采樣保持開關,滿量程精度高達0.15%。
    3.納米激光粒度分析儀具備電背景補償功能,有利于獲得更加準確的光能數據。
    為保護作者權益,特注明出處:http://www.bettersize.net/bettersize-SonList-1098878/,如有不妥,請聯系作者刪除!