牛津儀器（Oxford）公司創建于1959 年，在X射線熒光鍍層測厚儀技術領域擁有超過35年研發和制造經驗，其生產的CMI900型X射線熒光鍍層測厚儀，具有非破壞、非接觸、多層合金測量、高重現性、高準確度等特點，厚度測量精度可達0.01微米；可檢測元素范圍從22號元素Ti到92號元素U；可同時測定5層鍍層，同時測量15種元素；可做貴金屬檢測，如Au karat評價；可應用于材料和合金元素分析、材料鑒別和分類檢測；可應用于液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量檢測；廣泛應用于電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，五金電鍍，裝飾件電鍍，連接器電鍍、鋼絲繩電鍍等多個行業，在鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 等各方面，從質量管理到不良品分析都有著廣泛的應用。