介電常數介質損耗測試儀是依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規定設計制作,并符合JB 7770等試驗方法。
介電常數介質損耗測試儀的創新設計,無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了完美的解決方案,它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業提供了更為方便的檢測工具,測量值更為精確,測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質,無須關注量程和換算單位。
    介電常數介質損耗測試儀作為最新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前國內最高的160MHz。采用了多項領先技術:
1.    雙掃描技術  -  測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。
2.    雙測試要素輸入  -  測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。
3.    雙數碼化調諧  -  數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。
4.    自動化測量技術  -對測試件實施  Q  值、諧振點頻率和電容的自動測量。
5.    全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、  Q  值、信號源頻率、諧振指針。
6.    DDS 數字直接合成的信號源  -確保信源的高葆真,頻率的高精確、幅度的高穩定。
7.    計算機自動修正技術和測試回路最優化 —使測試回路 殘余電感減至最低,徹底根除  Q  讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。   
介電常數介質損耗測試儀技術參數
Q 值測量范圍:   2~1023  , 量程分檔:  30、100、300、1000,自動換檔或手動換檔
固有誤差≤5%±滿度值的2  %(200kHz~10MHz),≤6%±滿度值的2%(10MHz~160MHz)
工作誤差≤7%±滿度值的2%(200kHz~10MHz),≤8%±滿度值的2%(10MHz~160MHz)
電感測量范圍:        4.5nH  ~  140mH 
電容直接測量范圍:1  ~  200pF 
主電容調節范圍:  18  ~  220pF 
主電容調節準確度:120pF以下±1.2pF  ;  120pF以上±1%
信號源頻率覆蓋范圍:  100kHz~160MHz 
頻率分段(虛擬):  100~999.999kHz  ,  1~9.99999MHz,10~99.9999MHz,  100~160MHz 
頻率指示誤差:    3×10-5±1個字 
 
測試夾具參數:
平板電容器: 極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可選   
極片間距可調范圍:≥15mm 
2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm 
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz) 
4.測微桿分辨率:0.001mm
 
電感組參數:
線圈號      測試頻率                  Q值        分布電容p            電感值   
  9         100KHz             98       9.4               25mH
  8         400KHz           138     11.4             4.87mH
  7         400KHz