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達興昌科技(深圳)有限公司

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[供應]IMPAC MIKRON M315X黑體輻射源/紅外線測溫儀校正器
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  • 更新日期:2014-09-29 09:11:19
  • 有效期至:2015-09-29
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IMPAC MIKRON M315X黑體輻射源/紅外線測溫儀校正器 詳細信息

M 315 X (X4, X6, X8, X12)
Large area sources for calibrating thermal imaging systems, aerial mapping / surveillance equipment and spectrophotometers. 
(Ambient +5) ... 400°C 


Heated emitter shape: 
Thermally uniform plate

Emissivity: 
effective = 1.00 
at 8...14 μm 
(For emissivities of other wavelength temperature correction tables are available) 

Standard calibration method: 
pyrometric 
(Large area calibration sources with temperatures up to 400°C can optionally be calibrated thermometrically.)

Surface area: 
M 315 X4: 101 x 101 mm 
M 315 X6: 152 x 152 mm
M 315 X8: 204 x 204 mm
M 315 X12: 305 x 305 mm

Temperature uncertainty: 
1°C (<100°C) to 1.3°C (at 400°C) 

Average warm-up time: 
60 min (to 400°C)

Dimensions [mm] (HxWxD) / Weight: 
X4: 280 x 254 x 280 to X12: 510 x 660 x 585 
Controller module: 178 x 483 x 593

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