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先進電子測試儀器與系統的世界級領導者吉時利儀器公司（NYSE：KEI），日前宣布推出了最新的4225-PMU超快I-V測試模塊，進一步豐富了4200-SCS半導體特征分析系統的可選儀器系列。它在4200-SCS已有的強大測試環境中集成了超快的電壓波形發生和電流/電壓測量功能，實現了業界最寬的電壓、電流和上升/下降/脈沖時間動態量程，大大提高了系統對新材料、器件和工藝進行特征分析的能力。同樣重要的是，利用4225-PMU可以像進行直流測量那樣，輕松實現超快的I-V源和測量操作。其很寬的可編程源與測量量程、脈寬和上升時間使得它非常適合于既需要超快電壓輸出又需要同步測量的應用——從納米CMOS到閃存。