Agilent E4991A/E4981A 射頻阻抗/材料分析儀 
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主要特性與技術指標 基本精度
?基本精度+/-0.8%
掃描參數
頻率：1 MHz 至3 GHz
振蕩器電平：高達1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
DC 偏置電平（選件E4991A-001）：+/- 40V 或+/- 50 mA
更多特性
Windows 風格的用戶界面
內置VBA 編程功能
通過LAN 接口進行數據傳輸
多功能測量選件
介電/磁性材料測量（選件E4991A-002）
可靠的晶圓測量（選件E4991A-010）
溫度特性測量（選件E4991A-007）
描述
E4991A 射頻阻抗/材料分析提供極限阻抗測量性能和功能強大的內置分析功能。它將為元器件和電路設計人員測量3 GHz 以內的元器件提供創新功能，幫助他們進行研發工作。與
反射測量技術不同，E4991A 使用射頻電流–電壓（RF-IV）技術，可在廣泛的阻抗范圍內提供更精確的阻抗測量結果。基本阻抗精度是+/-0.8%。高Q 精度有利于進行低功耗元器件
分析。內置合成器具有1 MHz到3 GHz 的掃描范圍和1 mHz的分辨率。
 
材料評估
 
E4991A 提供完整的介電/磁性材料測量解決方案，涵蓋1 MHz 至1 GHz的寬頻率范圍。
 
晶圓測量
 
借助E4991A-010 探針臺連接套件，您可輕松地地將Agilent E4991A 連接到射頻探頭系統（由Cascade Microtech 提供）上進行晶圓測量。
 
溫度特性評估
 
溫度特性測試套件E4991A-007 是一款為元器件和材料進行溫度特性測量的新型解決方案。該選件可在- 55°C 至+ 150°C 廣泛的溫度范圍內提供高精度的溫度特性分析功能，以
及強大的溫度漂移補償功能。
 
備注：
我們的優勢：


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