X射線鍍層測厚儀X-Strata920 是一款低成本高效率、快速可靠的鍍層厚度測量及材料分析設備。
X射線鍍層測厚儀X-Strata920 在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出卓越的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。X射線鍍層測厚儀X-Strata920 為這些行業提供了：以更有效的過程控制來提高生產力，有助電鍍過程中的生產成本最小化、產量最大化。同時快速無損地分析珠寶及其他合金，快速分析多達4層鍍層。
X射線鍍層測厚儀X-Strata920主要特點;
1.快速、精確的分析：大面積正比計數探測器和牛津儀器50瓦微聚焦X射線光管（X射線光束強度大、斑點小，樣品激發佳）相結合，提供最佳靈敏度
2.簡單的元素區分：通過次級射線濾波器分離元素的重疊光譜
3.性能優化，可分析的元素范圍大：X-Strata920 預置800多種容易選擇的應用參數/方法
4.卓越的長期穩定性：
自動熱補償功能測量儀器溫度變化并做修正，確保穩定的測試結果
例行進行簡單快 速的波譜校 準，可自 動檢查儀器性能（例如靈敏性）并進行必要的修正
5.堅固耐用的設計
可在實驗室或生產線上操作
堅固的工業設計

X射線鍍層測厚儀X-Strata920 相關技術參數：
元素范圍：Ti22 to U92;
鍍層和元素數量：4 層鍍層 + 底材，可同時分析至多25種元素;
X-ray激發：50 W (50kV, 1mA) 微聚焦型鎢靶X射線管;
X-ray探測器：封氣（氙氣）正比計數器;
準直器：單準直器或多準直器（最多6個） ，圓形、正方形和矩形可選;
二次濾波器：可配置至多3個濾波器（V、Co和Ni）用于重疊X射線波譜校正;
數字信號處理器：4096多通道數字分析器，自動信號處理，帶死時間修正及防脈沖累積功能;
軟件：SmartLink FP，語言：英語、中文（簡體和繁體）、法語、德語、西班牙語、日語、韓語、意大利語、捷克語和俄語;
計算機：CPU：Intel Core 2 Duo E7500 2.93GHz;
硬盤： 500Gb，內存：2GbDVDRW ;
操作系統：Microsoft WindowsTM ;
電源：85~130 或 215~265 伏特，頻率范圍47Hz到63Hz ;
工作環境：10°C (50°F) 至 40°C (104°F)，相對濕度98%，無冷凝;
可選配置：標準樣品臺（最大樣品高度 33mm / 1.3”）、加深式樣品臺（最大樣品高度 160mm / 6.3”）、XY 程控樣品臺（樣品臺移動行程：178mm x 178mm / 7” x 7”）、各樣品臺Z向移動行程：43mm (1.7”)，均為開槽式樣品臺；
尺寸（寬 x 長 x 高）：標準樣品臺：407 x 770 x 305 mm (16 x 30.3 x 12")，加深式樣品臺：407 x 770 x 400 mm (16 x 30.3 x 15.7")，XY 程控樣品臺：610 x 1037 x 375 mm (24 x 40.8 x 14.8“)；
重量：97kg（不包含計算機和顯示器）