Agilent4287A射頻測試儀HP4287A射頻測試儀 


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1MHz～3GHz，以100KHz分檔 
  ·阻抗測量范圍寬，從200mΩ到3KΩ 
    · 在低測度信號電平上具有優良的測量重復性 
  ·基本精度為1% 
  ·高速測量9ms 
  Agilent4287A射頻測試儀 
  Agilent4287A射頻測試儀LCR在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供精確，可靠和快速測量，以


改進生產線上對電子元件進行測試的質量和生產率。與反向測量技術不同，采用直流電壓測量技


術能在大的阻抗范圍進行精確測量。 
   
  生產率高，質量可靠 
  4287A適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4287A的測量非常快。此外，在小測試電


流(100μA)優良的測試重復性還可以顯著提高生產率，因為所需的取平均過程非常短。 
   
  系統組建簡單 
  測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件點測件接點


附近，而不會使誤差有任何增大。內置比較器功能，高速GPIB處理器接口可用來簡化與元件固定


裝置和PC機的組合。增強的比較器功能可以使復雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。 
   
  便于使用 
  8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測量設置和結果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便


且無差錯。內置統計分析功能可以提供監視測試質量和效率的過程。可選用的LAN接口有助于統一


進行生產監控。此外，若干APC-7SMD測量夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉APC-7適配


器聯用，從而無需制作專用夾具。