經(jīng)常受到周圍環(huán)境的各種有害影響，如影響電子產(chǎn)品的工作性能、使用可靠性和壽命等。影響電子產(chǎn)品的環(huán)境因素有：溫度、濕度、大氣壓力、太陽(yáng)輻射、雨、風(fēng)、冰雪、灰塵和沙塵、鹽霧、腐蝕性氣體、霉菌、昆蟲及其他有害動(dòng)物、振動(dòng)、沖擊、地震、碰撞、離心加速度、聲振、搖擺、電磁干擾及雷電等。 　　對(duì)于要求特別可靠的產(chǎn)品可取客觀環(huán)境數(shù)據(jù)的極值，甚至是統(tǒng)計(jì)推斷的極值，以保證產(chǎn)品在使用中萬無一失。對(duì)于要求可靠性高的產(chǎn)品，可取客觀環(huán)境數(shù)據(jù)出現(xiàn)概率為 1%的數(shù)值。對(duì)于一般要求的產(chǎn)品，可取客觀環(huán)境出現(xiàn)概率為 5%，甚至為10%的數(shù)值。 　　如客觀環(huán)境數(shù)據(jù)記錄時(shí)間不夠長(zhǎng)，就要運(yùn)用數(shù)理統(tǒng)計(jì)知識(shí)對(duì)其進(jìn)行處理。例如，小氣候?qū)崪y(cè)調(diào)查資料可用相關(guān)法延長(zhǎng)而推算出歷史上可能有的數(shù)據(jù)；又如， 機(jī)械振動(dòng)實(shí)測(cè)調(diào)查資料，可采用包絡(luò)線法、功率頻譜分析法或用時(shí)間序列 建模法，推算各種概率數(shù)值的可能性，然后根據(jù)產(chǎn)品的可靠性要求程度取所需的數(shù)據(jù)。