在當(dāng)今工業(yè)生產(chǎn)中對納米級表面結(jié)構(gòu)的了解日益重要。這些應(yīng)用包含了從內(nèi)燃機磨損到新型潤滑涂層和防腐蝕保護層，以及現(xiàn)代車用噴漆，從半導(dǎo)體工業(yè)到醫(yī)用技術(shù)。傳統(tǒng)方法已經(jīng)無法處理上述的長度空間。但同時可以看到，對表面、涂層和功能材料表面盡可能全面地就性能進行描述日益成為工業(yè)界和科研機構(gòu)的迫切需求，例如在局部極小的尺寸內(nèi)對化學(xué)反應(yīng)過程，腐蝕和磨損進行觀察等等。原子力顯微鏡作為極其靈活的圖像檢測方法尤其適合這些應(yīng)用，它的測量范圍覆蓋了從0.2毫米到微米納米直至原子晶體結(jié)構(gòu)。而這樣大的測量范圍只需使用同一臺設(shè)備。隨著BMT多用掃描儀AFM 3000的研制成功，市場上終于出現(xiàn)了一臺掃描原子力顯微鏡，它的突出特點是模塊化結(jié)構(gòu)、高度靈活性而且操作極其簡便。它獨特的測量模塊運用了化學(xué)對比度成像（Chemical Contrast Imaging (CCI-AFM) ，這種新技術(shù)可以檢測到表面極其微量的化學(xué)變化，這樣就可以跟蹤腐蝕、磨損、氧化等等物理和化學(xué)反應(yīng)實際發(fā)生的位置，這些反應(yīng)通常正是在微米和納米尺度上。用多用成像軟件包可以在多個采集點上同時采集圖像信息：從采樣點表面形貌到摩擦，磨損和接觸剛性，一直到化學(xué)對比度。

主要特點：
操作極其簡便，用戶控制，模塊化構(gòu)造
多用掃描 測量頭, 就極高的穩(wěn)定性作了優(yōu)化
多測量模式選擇: 接觸模式，非接觸模式，震蕩接觸模式，力調(diào)制顯微鏡，摩擦顯微鏡和粘合顯微鏡，力譜儀，相位對比度。
使用同一個測量頭可達到的掃描范圍從納米級到面積為 200 μm x 200μm 
包括化學(xué)對比度成像 (CCI-AFM) 模式 
包括保護氣體選項
可直接在樣品實地的溫度和濕度條件下測量
包括可在液體中測量的工作方式
極有用途的附加模塊包括：納米電鍍(GalvanoScan)、納米摩擦和磨損檢測 (TriboScan) 以及腐蝕 (CorroScan) 和納米構(gòu)造 (LithoScan)
可按用戶需要提供相匹配的軟件模塊  
根據(jù)特殊要求可提供應(yīng)用實例 

技術(shù)數(shù)據(jù)： 
試樣尺寸: 25 mm x 25 mm
調(diào)節(jié)距離: 在x，y方向可達20 mm x 20 mm
步進電機: z方向可達15 mm
環(huán)境條件: 普通環(huán)境條件常規(guī)運行（接觸空氣，室溫）；此外也可在保護氣體和液體中工作
掃 描 儀: x， y，z方向壓電掃描。 掃描范圍x, y方向可達 200mm    
分 辨 率: 可達原子尺度
步進電機: 15 mm行程  
入    口: 從上方和側(cè)向有直接光學(xué)入口
電子元件: 數(shù)字控制器，PC機經(jīng)USB接口驅(qū)動
軟    件: 用戶友好的測量和分析軟件包  
數(shù)據(jù)采集: 并行采集顯示多個測量通道（例如 表面形貌和化學(xué)對比度）
數(shù)據(jù)分析: 功能全面的圖像處理和數(shù)據(jù)分析軟件（包含統(tǒng)計函數(shù)、粗糙度分析等等）
校    準: 供貨范圍包含校準模板