宿州高低溫試驗(yàn)箱/六安高低溫冷凍試驗(yàn)箱根據(jù)試驗(yàn)方法與行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)可分為“交變?cè)囼?yàn)”和“恒溫試驗(yàn)”，兩種試驗(yàn)方法都是在高低溫試驗(yàn)箱的基礎(chǔ)上進(jìn)行升級(jí)拓展，交變?cè)囼?yàn)箱是指可以一次性將需要做的高溫、低溫、時(shí)間設(shè)定在儀表參數(shù)內(nèi)，試驗(yàn)箱會(huì)按照設(shè)定走程序，高低溫試驗(yàn)箱就是在做一個(gè)固定的溫度，使試驗(yàn)效果更接近自然氣候，模擬出更惡劣的自然氣候，從而使被測(cè)樣品的可靠性更高。
宿州高低溫試驗(yàn)箱/六安高低溫冷凍試驗(yàn)箱設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。本試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn)
GB 10589 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 10592 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.1 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB2424.1 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
型號(hào)
GDW-50
GDW-100
GDW-150
GDW-225
工作室尺寸:mm
350×350×450
400×450×550
500×500×600
500×600×750
型號(hào)
GDW-408
GDW-800
GDW-1000
GDW-1500
工作室尺寸:mm
650×750×850
800×1000×1000
1000×1000×1000
1500×1000×1000
技術(shù)參數(shù)
溫度范圍
A型-20℃~+100℃(+150℃)/ B型 -40℃~+100℃(+150℃)
C型 -70℃~+100℃
波動(dòng)度≤±0.5℃
均勻度≤2℃
升溫速率1.0~3.0℃/min
降溫速率0.7~1℃/min
宿州高低溫試驗(yàn)箱/六安高低溫冷凍試驗(yàn)箱適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗(yàn)。對(duì)電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下，檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。產(chǎn)品具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件，適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行低溫、高溫試驗(yàn)及恒定溫?zé)嵩囼?yàn)。產(chǎn)品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC
沃特儀器高低溫冷凍試驗(yàn)箱產(chǎn)品符合ISO、GB、GJB、ASTM、DIN、JIS、信息發(fā)布C、UL、MIL、IEC等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)及大眾汽車TL，通用汽車GM汽車行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，產(chǎn)品遍布全國(guó)各地。