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射線探傷檢測(cè)是指用X射線或γ射線穿透試件,以膠片作為記錄信息的器材的無(wú)損檢測(cè)方法,該方法是最基本的,應(yīng)用最廣泛的一種非破壞性檢驗(yàn)方法。
原理:射線能穿透肉眼無(wú)法穿透的物質(zhì)使膠片感光,當(dāng)X射線或r射線照射膠片時(shí),與普通光線一樣,能使膠片乳劑層中的鹵化銀產(chǎn)生潛影,由于不同密度的物質(zhì)對(duì)射線的吸收系數(shù)不同,照射到膠片各處的射線強(qiáng)度也就會(huì)產(chǎn)生差異,便可根據(jù)暗室處理后的底片各處黑度差來(lái)判別缺陷。射線探傷對(duì)人體的危害性比較大,因此進(jìn)行檢測(cè)時(shí)要進(jìn)行清場(chǎng),周圍30M內(nèi)最好不要有人,以免對(duì)人體輻射造成危害。
基本的操作流程是:檢測(cè)前的準(zhǔn)備——選擇透照工藝——現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)——暗室處理——底片評(píng)定,出具檢測(cè)報(bào)告.
 
 
 
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