供應白光干涉儀，納米深度3D形狀顯微檢測儀，SWIM1510MS

白光干涉儀器SWIM-1510MS

SWIM1510MS 產(chǎn)品特點及用途         結(jié)合光學顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡，結(jié)合顯微物鏡與干涉儀、不需要復雜光調(diào)整程序，兼顧體積小、納米分辨率、易學易用等優(yōu)點，可提供垂直掃描高度達400um的微三維測量，適合各種材料與微組件表面特征和微尺寸檢測。應用領(lǐng)域包含 ●  晶體（Wafer）
●  光盤/硬蝶（DVD Disk/Hard Disk））
●  平面電組件（MEMS Components）
●  平面液晶顯示器（LCD）
●  高密度線路印刷電路板（HDI PCB））
●  IC封裝（IC Package））
    以上其它材料分析與組件微表面研究 專業(yè)級的3D圖形處理與分析軟體（Post Topo） ●  提供多功能又具親和接口的3D圖形處理與分析
●  提供自動表面平整化處理功能
●  提供高階標準片的軟件自校功能
●  深度/高度分析功能提供線型分析與區(qū)域分析等兩種方式
●  線型分析方式提供直接追溯ISO定義的表面粗糙度（Rorghness）與起伏度
●  （waviness）的測量分析。可提供多達17種的ISO量測參數(shù)與4種額外量測數(shù)據(jù)（Wafer）
●  區(qū)域分析方式提供圖形分析與統(tǒng)計分析。
●  具有平滑化、銳化與數(shù)字過濾波等多種二維快速利葉轉(zhuǎn)換（FFT）處理功能。
●  量測分析結(jié)果以BMP等多種圖形檔案格式輸出或是Excel文本文件格式輸出 專業(yè)級的3D圖形處理與分析軟體（Post Topo） ●  系統(tǒng)硬件搭配ImgScan前處理軟件自動解析白光干涉條紋
●  垂直高度可達0.1nm
●  高度的分析算法則，讓你不在苦候測量結(jié)果
●  垂直掃描范圍的設定輕松又容易
●  有10X、20X、50X倍率的物鏡可供選擇
●  平臺XYZ位置數(shù)顯示，使檢標的尋找快速又便利
●  具有手動/自動光強度調(diào)整功能以取得最佳的干涉條紋對比。
●  具有高精度的PVSI與高速VSI掃描測量模式供選擇。
●  具有專利的解析算法則可處理半透明物體的3D形貌。
●  具有自動布補點功能
●  可自行設定掃描方向 技術(shù)規(guī)格參數(shù) 型號SWIM1510MS 系統(tǒng)配備顯微鏡、掃描控制器、移動平臺、取像單元、個人電腦 顯微鏡單眼顯微鏡（標準配件） 干涉物鏡（選配）放大率10X    20X    50 視野（ mm）0.5    0.25    0.1 光學解析度（mm）1.12    0.84    0.61 影像縮放1.0X（標配）    0.5X（選配） 垂直掃描控制器掃描范圍100um    400um 掃描解析度0.1nm 掃描模式自動 光強度調(diào)整自動/手動 掃描速度12nm/s 樣品移動平臺X、Y平面移動平面150mm*100mm，手動（標準配件） Z軸移動平臺80mm，手動（標準配件） 位置數(shù)位顯示單元三軸光學尺與三軸數(shù)位顯示器（解析度 1um） 偏移調(diào)整平臺手動 取像單元影像感測量面型CCD（標準配件） 感測器解析度640*480（標準配件） 電腦配置Pentium-Computer ，17"LCD Monitor，120G以上硬盤 分析軟體MS-Windows相容的資料擷取與分析軟體 包含ISO粗糙度/階高分析，快速薄利葉轉(zhuǎn)換和濾波，多樣的2D和3D觀測視角圖，外形分析，圖像縮放，標準影像檔案格式轉(zhuǎn)換等等 階高標準片（選配）50nm170nm230nm470nm1800nm

供應白光干涉儀，納米深度3D形狀顯微檢測儀，SWIM1510MS