xv求購_4287A_回收_Agilent4287A_13642910558
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1MHz~3GHz,以100KHz分檔
·阻抗測量范圍寬,從200mΩ到3KΩ
·在低測度信號電平上具有優良的測量重復性
·基本精度為1%
·高速測量9ms
Agilent4287A射頻測試儀
Agilent4287A射頻測試儀LCR在1MHz~3GHz頻率范圍可以提供精確,可靠和快速測量,以改進生產線上對電子元件進行測試的質量和生產率。與反向測量技術不同,采用直流電壓測量技術能在大的阻抗范圍進行精確測量。
生產率高,質量可靠
4287A適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4287A的測量非常快。此外,在小測試電流(100μA)優良的測試重復性還可以顯著提高生產率,因為所需的取平均過程非常短。
系統組建簡單
測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件點測件接點附近,而不會使誤差有任何增大。內置比較器功能,高速GPIB處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機的組合。增強的比較器功能可以使復雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。
便于使用
8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測量設置和結果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯。內置統計分析功能可以提供監視測試質量和效率的過程。可選用的LAN接口有助于統一進行生產監控。此外,若干APC-7 SMD測量夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉APC-7適配器聯用,從而無需制作專用夾具。
技術指標
(全面的技術指標參見數據資料表)
測量參數:|Z|,|Y|,θ-z(度/弧度)θ-y(度/弧度),G,B,Ls,Lp,Cs,Cp,Rs,Rp,Q,D(可同時顯示4種測量參數)。
測試頻率:1MHz~3GHz
頻率分辨力:100KHz
測試信號:V:4.47mV~502mV(f≤1GHz) 4.47mV~447mv(f> 1GHz)
I:0.0894mA~10mA(f≤1GHz) 0.0894mA~8.94mA(f> 1GHz)
電平監視功能:電壓,電流
基本的Z精度:±1.0%
測量范圍:200mΩ~3kΩ(1MHz下,精度≤10%)
測量時間:每點9ms(最高速)
Rdc測量:可用于觸點檢查
校準:開路/短路/負載/低損耗電容量
補償:開路/短路,電長度
大容量存儲功能:30MB固態大容量存儲或2GB硬盤(選擇選件)
接口:GPIB,:LAN(10Base-T/100Base-Tx自動選擇),處理器接口
顯示:8.4英寸彩色LCD顯示器
一般指標
電源要求:90V~132V,或198V~264V,47Hz~63Hz,350VAmax
工作溫度/濕度:5℃~40℃,相對濕度20%~80%
尺寸:234mm高×425寬×445mm深(主機)
重量:16kg/0.3kg(典型值)(主機/測試頭)
主要技術資料
4287A射頻LCR測試儀產品介紹,p/n 5968-5443E
4287A技術指標:p/n 5968-5758E
LCR測試儀,阻抗分析儀和測試夾具選購指南,p/n 5952-1430E
  求購的附件
16190B性能測試配件
16195B校準工具箱
16191A側面電極夾具
16192A平行電極夾具
16193A小側面電極夾具
16194A高溫測試夾具
16196A用于1608(mm)的平行電極SMD夾具
16196B用于1005(mm)的平行電極SMD夾具
16196C用于0603(mm)的平行電極SMD夾具
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