九成新!Agilent4287A/HP4287A射頻LCR測試儀張S15017128226

東莞歐諾誼電子儀器有限公司

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1MHz～3GHz，以10kHz分檔 
阻抗測量范圍寬，從200mΩ到3kΩ 
在低試信號電平上具有優良的測量重復性 
基本精度為1% 
高速測量:10ms 
安捷倫 4287A射頻LCR測試儀在1 MHz～3 GHz頻率范圍可以提供精確、可靠和快速測量，以改進生產線上對電子元件進行測試的質量和生產率。與反射測量技術不同，采用直流電壓測量技術能在大的阻抗范圍進行精確測量。
生產率高、質量可靠
安捷倫 4287A 適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4287A的測量速度非常快。此外，在小測試電流(100mA)處優良的測試重復性還可以顯著提高生產率，因為所需的取平均過程非常短。
系統組建簡單
測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點附近，而不會使誤差有任何增大。內置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機的組合。
增強的比較器功能可以使復雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。
便于使用
8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測量設置和結果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯。內置統計分析功能可以提供監視測試質量和效率的過程。可選用的LAN接口有助于統一進行生產監控。
此外，若干APC-7，SMD測試夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉APC-7適配器聯用，從而無需制作專用夾具。
技術指標
測量參數：|Z|，|Y|，L，C, R，D, Q, X，G，B，θ 
測量電路形式：串聯和并聯 
工作頻率：1 MHz～3 GHz