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[供應]手持式四探針測試儀
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- 更新日期:2019-10-28 09:46:28
- 有效期至:2020-10-27
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手持式四探針測試儀
詳細信息
 
 
一、
概述:
參照硅片電阻率測量的國際標準(ASTM F84)及國家標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》,采集高精密集成電路恒流源系統,提供便捷的操作模式,便攜式外形結構,可充電式電源系統,中英文語言版本.
 
二、
功能介紹:
便攜式外形結構更加適用于車間生產、品管抽檢,外出攜帶測量等要求快速便捷測量的場所;也適用于中小型半導體材料生產企業.具有高性價比優勢.
液晶顯示,顯示方阻、電阻率、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度,樣品厚度單位從米到納米均可輸入,自動測量、質量輕便,操作簡便;
 
三、適用范圍:
 
廣泛用于:覆蓋膜導電高分子膜,高、低溫電熱膜隔熱、防輻射導電窗膜導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙金屬化標簽、合金類箔膜熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜電極涂料,其他半導體材料、薄膜材料
硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導電薄膜(ITO導電膜玻璃等),金屬膜,導電漆膜,蒸發鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率 導電性油漆,導電性糊狀物,導電性塑料,導電性橡膠,導電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料,EMI防護材料,導電性纖維,導電性陶瓷等.
四、技術參數資料
規格型號
FT-392A
FT-392B
FT-392C
1.方塊電阻范圍
0.1~2.00×102Ω/□
0.1~2.00×103Ω/□
0.1~2.00×104Ω/□
2.電阻率范圍
0.01~2×103Ω-cm
0.01~2×104Ω-cm
0.01~2×105Ω-cm
3.分辨率
0.01Ω
0.01Ω
0.01Ω
4.顯示讀數
液晶顯示:電阻率、方阻、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度
5.測試方式
單電測量
6.工作電源
5V,1000mA
7.整機不確定性
≤4.5%(標準樣片結果)
8.選配
 選配1.方形探頭;選配2.直線形探頭;探針間距;選配3:探針間距1mm;2mm;3mm三種規格選配4:探針材質:碳化鎢針鍍金磷銅半球形針
 
 
 
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