ARCOS 型全譜直讀等離子體發射光譜儀產地:德國具采用專利的密封充氣紫外光學系統和OPI水平觀測等離子光學接口完成消除水平觀測時尾焰的影響、全譜CCD技術和多視角等離子體定位等新技術,有高靈敏度、高精度以及波長范圍寬(130nm-770nm) 等特性,在ICP-OES 領域開拓了全新的應用,可分析包括ppm級鹵素在內的73個金屬和非金屬元素。 
主要特點 
1.一維色散+32個CCD檢測器設計,檢測器無需超低溫冷卻,無需氬氣吹掃保護 
2.全波長覆蓋,唯一為130-770nm的波長范圍,唯一可以分析ppm級鹵素 
3.專利密閉充氬循環光路系統,檢測190nm以下譜線,無需氣體吹掃 
4.3秒實現真正全譜數據采集,分析速度最快 
5.所有氣體流量采用質量流量計計算機控制,矩管位置3維步進馬達計算機控制自動化程度高 
技術參數: 
光學系統 
焦距:0.75米 
光譜范圍:130nm – 770nm 
光柵:三光柵 
- 3600線/毫米 (130nm – 175nm) 
- 3600線/毫米 (175nm – 340nm) 
- 1800線/毫米 (340nm – 770nm) 
光譜級次:全波長一級光譜 
32個線性CCD連續 排列在羅蘭圓上 
每個CCD的像素數:3648 
分辨率:8.5pm (恒定不變) 
2011型ICP單道掃描光譜儀1000II型ICP單道掃描光BLUE 型全譜直讀等離子體發Genesis 型全譜直讀等離ARCOS 型全譜直讀等離子體        1/1