金東霖供應菲希爾(FISCHER)膜厚測試儀能夠有效并精確的測量合金屬成分，只需短短數秒鐘，所有從17號元素氯到92號元素鈾的所有元素都能準確測定。而且在不使用標準片做校正的情況下可達到一個相當不錯的測量結果.X射線測厚儀操作也十分簡單不需要復雜、昂貴的儀器來抽真空，操作員只需將測試面朝下，不論大小的樣品可直接放進測量室內，不用調距離，只需對準位置，便能在正常的環境下測量從元素Z＝13鋁到Z＝92（鈾），固定、漿狀及液體的樣本也可以測量，即使是極小不規則形狀的測量面積也可快速、免接觸的測量。

可變焦距控制功能和固定焦距控制功能  
計算機系統配置  戴爾計算機  
分析應用軟件  操作系統：Windows2000中文平臺 分析軟件包：SmartLink FP軟件包  
X射線測厚儀測厚范圍  可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。  
－基本分析功能  采用基本參數法校正。根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。  
樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)  
可檢測元素范圍：CL17 – U92   

X射線測厚儀的應用范圍 :   1、分析電子部品電鍍層的厚度 
                         2、各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析    
                           3、各鍍層的成分比例分析。
聯系人：王生：13316557996
電話：0755-29371655  
傳真：0755-29371653   
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