涂層測(cè)厚儀leeb210
覆層測(cè)厚儀采用磁性和電渦流兩種測(cè)量方法，可無(wú)損地檢測(cè)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度。

涂層測(cè)厚儀leeb210技術(shù)參數(shù)：

  型號(hào) leeb 210
測(cè)頭類(lèi)型 F1
工作原理 磁感應(yīng)
測(cè)量范圍 0~1000μm
低限分辨率 0.1μm
一點(diǎn)校準(zhǔn) ±（3%H+1）
二點(diǎn)校準(zhǔn) ±[（1~3%)H+1]
最小曲率半徑mm 凸1.5
最小面積直徑mm Φ7
基本臨界厚度mm 0.5
溫度 0~40℃
濕度 20%~90%
磁場(chǎng) 無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境
電源 AAA型堿性電池1.5V兩節(jié)
外形尺寸 115×70×30mm（主機(jī)）
重量 130g