測(cè)厚儀|涂層測(cè)厚儀|泛美測(cè)厚儀由星楓儀器提供。測(cè)厚儀|涂層測(cè)厚儀|泛美測(cè)厚儀是南昌星楓儀器有限公司2014年全新升級(jí)推出的
342超聲波測(cè)厚儀是一種便攜式測(cè)厚儀
技術(shù)參數(shù)
 
Leeb342
測(cè)量范圍
0.75~300mm（鋼，由探頭決定）
顯示分辨率
0.01mm
聲速范圍
1000~9999m/s
表面溫度
-10~60℃
示值誤差
±（1%H+0.1）mm，H為被測(cè)物實(shí)際厚度
電源
6V可充電鎳氫電池
操作時(shí)間
約200小時(shí)
外形尺寸
212×80×32mm
重量
約0.4kg（主機(jī)）
標(biāo)準(zhǔn)配置
主機(jī)、L51探頭、電源適配器、耦合劑、打印紙
可選配
探頭、耦合劑

HG-6130數(shù)字超聲波測(cè)厚儀

智能型超聲波測(cè)厚儀，采用最新的高性能、低功耗微處理器技術(shù)，基于超聲波測(cè)量原理，可以測(cè)量金屬及其它多種材料的厚度，并可以對(duì)材料的聲速進(jìn)行測(cè)