方塊電阻測試儀ST-21 是四探針方塊電阻測試儀中的新一代產品，是一種依照類似國家標準和美國A.S.T.M標準而設計，專門測量半導體方塊電阻(或稱薄屋電阻、面電阻，單位Ω/□)的新型儀器。可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(如ITO透明導電氧化膜)……等同類物質的薄層電阻。

方塊電阻測試儀的詳細介紹

方塊電阻測試儀ST-21


該儀器以大規模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成高精度穩流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。

特 點* 采用九十年代推出的大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定；* 以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰；* 采用單個干電池供電，帶電池欠壓指示；* 體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；* 輕便手持式設計操作、測試簡便； *.特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜；* 帶探頭與被測物質接觸良好指示(LED) 、探頭帶抗靜電模塊；* 單電源開關，推拉式探頭-主機接插件，操作極其簡便；

技 術 指 標
  1. 測量范圍：  按方塊電阻量值大小分為二個量程檔：○1 1.00～199.99Ω/□；○2 10.0～1999.9Ω/□；
  2. 恒流源：測量過程誤差：≤±0.8%；3. 模數轉換器：量程：0～199.99mv；分辨率：10μv；方式：LCD大屏幕顯示；極性，超量程均自動顯示；小數點同步顯示；4. 測量不確定度：在整個量程范圍內，測量不確定度≤5%5. 四探針頭：間距：1mm或3.8mm可選，偏差：≤2%；針間絕緣電阻≥500MΩ；6.  電源：9V疊層電池1節