歡迎選擇X熒光輕元素分析儀，請認準北京安科慧生科技有限公司。 輕質量數（氟F-氯Cl）范圍的元素由于外層電子密度低，X射線激發元素特征線效率低，熒光產額少，是X射線熒光檢測比較困難的元素范圍，傳統的XRF分析輕元素難以達到較好的檢出限。 高靈敏度X射線熒光光譜儀采用高通量雙曲面彎晶專利技術，全聚焦型雙曲面彎晶僅衍射X射線光管出射譜中的高強度特征X射線，從而入射到樣品的X射線具有很好的單色性，因此從樣品出射的X射線除了樣品中的元素被激發產生的熒光X射線（線光譜）和單色入射線的瑞利散射和康普頓散射以外，不存在連續線散射背景，從而保證待測元素特征線具有極低的背景干擾。被激發的元素的熒光X射線使用最新SDD（硅漂移探測器）檢測，從而得到對特定范圍內元素的高分辨和高靈敏度的分析。 設計理念： ? 單色激發X射線源：極大降低X射線管出射譜中散射線背景，元素熒光干擾小，信噪比提高。sunadanchorwisdom ? 小型化：50 W X射線管，無溶劑、氣體、冷卻等消耗，可移動檢測。