Micro Pioneer XRF-2000系列熒光X射線金屬鍍層測厚儀可用于測量一般工件、PCB及五金、半導體等產品的各種金屬鍍層的厚度。其特點為：雷射自動對焦、全自動XYZ樣片臺、Point and Shoot 自動對位、具溫度補償功能、十字線自動調整、具有競爭力的、五個準直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm)。是非破壞性測厚儀器的首選機型。