CST-50沖擊試樣缺口投影儀
技術協議
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一、產品綜述
概述
該儀器是專用于檢測沖擊試樣V、U型缺口的精密高效檢測儀器。儀器光學
系統質量優良,物鏡成像清晰,放大倍率準確,是材料沖擊試驗必不可少的光學
檢測儀器
隨著國內工業技術的發展,越來越多的行業已經開始執行夏比V型缺口沖
擊試驗方法,  日前國內諸如鍋爐壓力容器、冶金和機械等行業已普遍采用夏比
V型缺口沖擊試驗取代使用了幾十年的梅氏U型缺口沖擊試驗。
對于夏比V型缺口沖擊試驗,由于試樣V型缺口要求嚴格(試樣缺口深2mm
、呈45°角且試樣缺口尖端要求R0.25±0.025mm),故在整個試驗過程中,試樣
的V型缺口加工是否合格成了關鍵問題,如果試樣缺口的加工質量不合格,那么
其試驗的結果是不可信的,特別是R0.25mm缺口尖端的微小變化(其公差帶只有
0.025mm),都會引起試驗結果的陡跳,尤其是在試驗的臨界值時會引起產品或
報廢或合格兩種截然相反的結果。為保證加工出的夏比V型缺口合格,其缺口的
加工質量檢驗是一個重要的質量控制手段。目前用光學投影放大檢查是唯一切實
可行并能保證檢查質量的方法。CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據日前
國內廣大用戶的實際需求和GB/T229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗方法》中
對沖擊試樣缺口的要求而設計、開發的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺
口加工質量的專用光學儀器。
原理
本投影儀發出的光線經聚光鏡照射到被測物,再經物鏡將被照射物體放大
的輪廓投射在投影屏幕上。根據實際需要,本儀器為單一投射照明,光源通過一
系列光學元件投射在工作臺上,再通過一系列光學元件將被測試樣缺口輪廓清晰
的投射到投影屏上。物體經二次放大和二次反射成正像,在投影屏上所看到的圖
形與實際試樣放置的方向一致。
(三)產品特點
該儀器是利用光學投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口與標準樣板圖比對
,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,操作簡便,檢查對比直觀、效率
高,是目前唯一切實可行、并能保證檢查質量的沖擊試樣缺口檢查方法,是相關
理化試驗室的必備儀器。
(四)適用行業
本投影儀是廣大冶金、鍋爐壓力容器、車船和工程機械制及科研等部門理
化實驗室的必備專用設備。
該儀器還可用于機械零部件的外形輪廓、紡織物纖維、生物切片分析、工
量刃具的檢驗、儀表元件和半導體元件的投影檢測。
二、技術參數
1、 放大倍數:50×;
2、 投影屏直徑:180mm;
3、 工作臺尺寸:
方工作臺:110×125mm
圓工作臺:90mm
工作臺玻璃直徑:70 mm
  工作臺行程:縱向:10 mm;  橫向:10 mm;    升降:12 mm(無刻度)
  工作臺轉動范圍:0 — 360°
  儀器放大倍率:50×
物鏡放大倍率:2.5×
投影物鏡放大倍率:20×
  光源(鹵鎢燈):12V/100W
  電源:220V/50Hz
  外形尺寸:515×224×603mm(長×寬×高)
重量:約18kg
  準樣板圖類型  執行標準  備注
2mm V U型缺口  GB/T 229-2007
EN 10045.1-1990
ASTM E23-2002a  標準樣板圖的缺口尺寸與偏差應滿足標準規定
三、標準配置
1、 底座調整鈕:四個
2、 電源線:一根
3、 鹵鎢燈:二個
4、 平玻璃板:一塊
四、質量保證
                    設備三包期為正式交貨之日起一年。在三包期內,供貨方對設備出
現各類故障及時免費維修服務。對非人為造成的各類零件損壞,及時免費更換。
保修期外設備在使用過程中發生故障,供貨方及時到訂貨方服務,積極協助訂貨
方完成維修任務。
五、交貨期
供方現貨供應
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