SXJS-IV變頻抗干擾介質損耗測試儀是用于超高壓現場介損的測量,用變頻抗干擾和傅立葉數字濾波技術,保持強電場干擾下測量數據穩定、可靠測量結果由大屏幕雙色液晶屏清晰顯示,全中文操作界面,使用極其方便。 二、技術指標 1、抗干擾方式:變頻抗干擾 2、試方式:正接法反接法自激法外接法 3、量范圍:電容量內接高壓<60000PF 4、外接高壓:30P~600000PF 5、介損不限,zui小分辨率0.01% 6、確度:電容量±(1.5%讀數2PF) 7、介損±(2%讀數0.09%) 8、接試驗電源:0.5~10KV電壓緩升緩降 9、5~65Hz頻率可調45/55Hz自動雙頻測試 10、輸出電流200mA 11、源6~50V變頻zui大輸出電流20A 12、功能:電子萬年歷 13、準RS232接口100組數據存儲 14、條件:供電電源180~240VAC50Hz
抗干擾介質損耗測試儀:www.shixu99/shixu17-SonList-1163741/
www.chem17/st311059/erlist_1163741.html