美國博曼（BOWMAN）X射線熒光膜厚測試儀應(yīng)用范圍較廣的標(biāo)準(zhǔn)型鍍層厚度測量儀 分析:詳述.元素范圍鋁13到鈾92。.x射線激發(fā)能量50 W(50 kv和1 ma)鎢靶射線管.探測器硅PIN檢測器250 ev的分辨率或更高的分辨率.測量的分析層和元素5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個(gè)鍍層成分分析的同時(shí)多達(dá)25元素，BOWMAN膜厚儀高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信號(hào)處理系統(tǒng)能達(dá)到極高的精確度和非常低的檢測限。只需短短數(shù)秒鐘，所有從13號(hào)元素氯到92號(hào)元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測定.可測量：單一鍍層、二元合金層、三元合金層、雙鍍層等 ，應(yīng)用于端子，連接器，細(xì)小的金線，在五金，汽車配件．線路板．衛(wèi)浴，等行業(yè)

半導(dǎo)體美國BOWMAN X射線熒光膜厚測試儀:詳述
　　1.元素范圍：鋁13到鈾92。
　　2.x射線激發(fā)能量：50 W(50 kv和1 ma)鎢靶射線管
　　3.探測器：硅PIN檢測器250 ev的分辨率或更高的分辨率
　　測量的分析層和元素：5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個(gè)鍍層成分分析的同時(shí)多達(dá)25元素
　　4.過濾器/準(zhǔn)直器：4個(gè)初級(jí)濾波器與4個(gè)電動(dòng)準(zhǔn)直器（0.1 0.2 0.3 1.5mm）
　　5.聚焦：多固定聚焦與激光系統(tǒng)
　　數(shù)字脈沖處理：4096 多通道數(shù)字分析器與自動(dòng)信號(hào)處理，包括X射線時(shí)間修正和防X射線積累　　
　　6.電腦：英特爾酷睿i5 3470處理器(3.2 ghz)，8 gb DDR3內(nèi)存，微軟Windows 7 專業(yè)64位等效
　　7.鏡頭：1/4 " cmos - 1280 x720 VGA分辨率
　　8.電源：150 w、100 ~ 240伏，頻率范圍47赫茲到63赫茲　　
　　9.工作環(huán)境：50°F(10°C)到104°F(40°C)小于98% RH，無冷凝水
　　10.重量：32公斤
　　11.內(nèi)部尺寸：高:140毫米(5.5“)，寬:310毫米(12)，深:210毫米(8.3”)
　　12.外形尺寸：高:450毫米(18英寸)，寬:450毫米(18)，深:600毫米(24)