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[供應]FIB測試SEM測試品牌,FIB測試SEM測試排名,一通檢測
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- 更新日期：2016-12-20 09:54:48
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FIB測試SEM測試品牌,FIB測試SEM測試排名,一通檢測
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FIB測試SEM測試品牌，FIB測試SEM測試排名，一通檢測|深圳一通檢測技術有限公司
FIB測試，FIB檢測，
FIB 是英文 Focused Ion Beam的縮寫，依字面翻譯為聚焦離子束.簡單的說就是將Ga(鎵)元素離子化成Ga+， 然后利用電場加速.再利用靜電透鏡(electrostatic)聚焦，將高能量(高速)的Ga+打到指定的點. 基本原理與SEM類似，僅是所使用的粒子不同( e- vs. Ga +)FIB聚焦離子束是針對樣品進行平面、界面進行微觀分析。檢測流程包括：樣品制定、上機分析、拍照等，最后提供界面相片等數據。
主要用途：
1、電路修正， 用于驗證原型，改善bug，節省開支，增快上市時間。
2、縱面的結構分析可直接于樣品上處理，不需額外樣品準備。
3、材料分析-TEM樣品制備，用于精確定點試片制作，減低定點試片研磨所需人員經驗的依賴。
4、電壓對比、用于判定Metal(Via/Contact)是否floating。
5、Grain(晶粒)形狀大小的判定
SEM測試，SEM檢測。
1. 原理
SEM的工作原理是用一束極細的電子束掃描樣品，在樣品表面激發出次級電子，次級電子的多少與電子束入射角有關，也就是說與樣品的表面結構有關，次級電子由探測體收集，并在那里被閃爍器轉變為光信號，再經光電倍增管和放大器轉變為電信號來控制熒光屏上電子束的強度，顯示出與電子束同步的掃描圖像。圖像為立體形象，反映了標本的表面結構。
2. 性能
設備能夠滿足可以觀察直徑為0～200mm（8〞wafer）的試樣。
放大倍率：×5～×300，000
設備能夠滿足可以觀察直徑為0～200mm（8〞wafer）的試樣。
放大倍率：×5～×300，000
深圳市一通檢測技術有限公司（簡稱TTS）是從事工業與消費產品測試、檢驗與驗證并具有第三方公正地位的專業檢驗機構。實驗室已取得中.國合格評定國家認可委員會實驗室認可證書（CNAS ）、國家計量資質認定證書（CMA ）和國際運輸安全協會認證(ISTA )，實驗室依照國際標準ISO/IEC17025：2005《檢測和校準實驗室能力的通用要求》管理和運行，具備向社會出具公正性檢測報告的資格。
一. 環境可靠性檢測：1.其中氣候環境包含：高低溫試驗，交變溫濕熱（溫變1-2℃/min)，快速溫度循環試驗（溫變最快20℃/min），溫度沖擊試驗，高溫高濕試驗，恒定濕熱試驗，鹽霧腐蝕試驗(中性鹽霧、醋酸鹽霧、同加速乙酸鹽霧、交變鹽霧），防塵防水檢測（IP等級測試）（防塵試驗IP1X-6X、防水試驗IPX1-X8），IK等級測試、低氣壓試驗，高壓蒸煮試驗（HAST），人工汗液測試，氣體腐蝕試驗，耐焊接熱，沾錫性，UL94阻燃試驗，UV老化試驗（熒光紫外燈），太陽輻射試驗（氙燈老化、鹵素燈）等等；
2.其中機械環境包含：振動試驗（隨機振動，正掃頻振動，定頻振動），模擬汽輸車運試驗，碰撞試驗，機械沖擊試驗（半正弦波、方波、后峰鋸齒波），跌落試驗(1m和1.5m)，G值跌落，滾筒跌落試驗（0.5m和1m)，斜面沖擊試驗，堆碼壓力試驗，水平擠壓試驗，溫濕度+振動三綜合試驗，高加速壽命試驗（HALT），高加速應力篩選（HASS、HASA），插拔壽命試驗（插拔力、拔出力），鋼球沖擊試驗，按鍵壽命試驗，點劃壽命試驗，軟壓試驗、搖擺試驗，鉛筆硬度測試，耐磨擦測試，
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