基本介紹

無損探傷是在不損壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下，對(duì)被檢驗(yàn)部件的表面和內(nèi)部質(zhì)量進(jìn)行檢查的一種測試手段。探測金屬材料或部件內(nèi)部的裂紋或缺陷。

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項(xiàng)目類別

X射線探傷：射線探傷是利用 X射線或γ射線在穿透被檢物各部分時(shí)強(qiáng)度衰減的不同，檢測被檢物中缺陷

磁粉探傷：磁粉探傷是用來檢測鐵磁性材料表面和近表面缺陷的一種檢測方法。當(dāng)工件磁化時(shí)，若工件表面有缺陷存在，由于缺陷處的磁阻增大而產(chǎn)生漏磁，形成局部磁場，磁粉便在此處顯示缺陷的形狀和位置，從而判斷缺陷的存在。

超聲波探傷：超聲波探傷是利用超聲能透入金屬材料的深處，并由一截面進(jìn)入另一截面時(shí)，在界面邊緣發(fā)生反射的特點(diǎn)來檢查零件缺陷的一種方法，當(dāng)超聲波束自零件表面由探頭通至金屬內(nèi)部，遇到缺陷與零件底面時(shí)就分別發(fā)生反射波來，在螢光屏上形成脈沖波形，根據(jù)這些脈沖波形來判斷缺陷位置和大小。