儀器簡(jiǎn)介
AS-300 積分反射率測(cè)試儀是意大利A&S公司生產(chǎn)的高精度快速的反射率測(cè)試系統(tǒng)。AS-300 積分反射率測(cè)試儀操作使用簡(jiǎn)單，測(cè)試速度快，測(cè)試精度高。
應(yīng)用領(lǐng)域：
測(cè)量不透明,半透明和透明固體反射率光譜。
PV電池片反射率測(cè)試
Low-e 玻璃、建筑玻璃反射率光譜測(cè)試
真空鍍膜元件、光學(xué)元件表面表面反射率測(cè)試
FPD 、觸摸屏測(cè)試
汽車后視鏡、反射鏡測(cè)試
ITO薄膜。 
儀器功能：
*光譜測(cè)量 在波長(zhǎng)范圍內(nèi)進(jìn)行能量的圖譜掃描
*可進(jìn)行各種數(shù)據(jù)處理如峰谷檢測(cè)、導(dǎo)數(shù)運(yùn)算、譜圖運(yùn)算等.
*數(shù)據(jù)輸出 可進(jìn)行數(shù)據(jù)文件和參數(shù)文件的存取,測(cè)量結(jié)果以標(biāo)準(zhǔn)通用的數(shù)據(jù)文件格式輸出
光譜儀主要特點(diǎn)：
-全新設(shè)計(jì)的優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng),高性能的全息閃耀光柵,確保了儀器的低雜散光.
-設(shè)計(jì)先進(jìn)的電路測(cè)控系統(tǒng).使儀器具有高度的穩(wěn)定性和極低的噪聲. 
-全自動(dòng)的控制系統(tǒng),先進(jìn)的設(shè)計(jì)理念,確保儀器具有高可靠性和高穩(wěn)定性. 
-功能強(qiáng)大的測(cè)試軟件，可測(cè)量反射率光譜，平均反射率，顏色，最低反射率波長(zhǎng)等光學(xué)參數(shù)
-寬敞型開放式光源室設(shè)計(jì),使燈源更換更加方便
AS-300 反射率測(cè)試儀規(guī)格
技術(shù)參數(shù)
波長(zhǎng)精度：0.2nm
測(cè)量誤差：1%以下
單次測(cè)量時(shí)間：最小100ms
信號(hào)接口：USB2.0
操作系統(tǒng)：windows
波長(zhǎng)范圍：200-1100nm
數(shù)據(jù)傳輸速率：每4ms 一個(gè)全掃描入存儲(chǔ)器
焦距：42 mm（輸入）， 68 mm（輸出）
光纖連接：SMA905 接口
探測(cè)器：3648 像素的線型硅CCD 陣列 8um × 20um
光學(xué)分辨率：0.3 nm FWHM（與光柵和狹縫寬度的選擇有關(guān)）
光源 :           
 波長(zhǎng)范圍                       360-2500 nm                          
穩(wěn)定性                            ± 0.1%                               
燈泡功率                      12.7 VDC/ 0.9A                         
燈泡壽命                            2000 hrs