PCB膜厚測(cè)試儀采用全新數(shù)學(xué)計(jì)算方法和最新的FP（Fundamental Parameter）、DCM (Distenco Controlled Measurement)及強(qiáng)大的電腦功能來(lái)進(jìn)行鍍層厚度的計(jì)算。創(chuàng)新的高科技X-射線技術(shù)的支持，可對(duì)膜層厚度，進(jìn)行非破壞式的測(cè)量，符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)來(lái)進(jìn)行非破壞及不接觸的測(cè)量。除了可以測(cè)量鍍層厚度外，還可以計(jì)算合金中各種元素的含量。

PCB膜厚測(cè)試儀可測(cè)元素范圍：
氯(CL) – 鈾(U)
可測(cè)量厚度范圍：
原子序22-25，0.1-0.8μm≤
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
X-射線管：油冷,超微細(xì)對(duì)焦
高壓：0-50KV(程控)
電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器

金厚測(cè)量?jī)x樣品臺(tái)選擇： 
采用開(kāi)槽式樣品室，以方便對(duì)大面積線路板樣品的測(cè)量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用，分別為： 
一：手動(dòng)樣品臺(tái) 
1 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 
2 擴(kuò)展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 
3 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 

二：自動(dòng)樣品臺(tái) 
1  程控樣品臺(tái)：XYZ軸自動(dòng)控制。 
2  超寬程控樣品臺(tái)：XYZ軸自動(dòng)控制。 

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